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SEMICON CHINA 2019 圓滿成功

2019-06-20 [1657]

SEMICON CHINA 2019半導體展已于2019年3月22日在上海博覽中心完滿落幕,展期共3天,優尼康科技有限公司攜多臺設備閃耀亮相了本次展會,其中有多臺KLA旗下美國Filmterics 新型光學薄膜測量設備,包括3D掃描輪廓儀系統Profilm3D,測量超厚膜系列F1310,測量超薄膜F3-UV,半自動圓晶測量系統F50, F40等多款膜厚測試設備。另外展出還有FilmSense橢偏儀以及我司開發的MK II跟5050。

展會期間,優尼康家人向廣大觀展商展示了薄膜厚度測量技術,現場操作演示及的講解,除了吸引了不少行業人士前來現場相互交流指導, 也吸引合作伙伴的目光和青睞,并獲得現場交流人士*,此次展會取得圓滿成功。

在未來的發展路上,我司會以赴,將我們經營理念“真誠,專注,信賴”服務于大家。

期待2020年半導體展與各界人士再度相會!

 

火爆的展會現場

膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|薄膜厚度測量儀|粗糙度測量

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現場技術交流

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優尼康家人大合照

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